صفحه پروب ویفر روشی برای توسعه و تولید نیمه هادی ها است که امکان آزمایش الکتریکی هر ویفر را فراهم می کند. صفحه پروب سرامیکی یک وجود حیاتی در زمینه تولید تراشه نیمه هادی است. این ماده بیشتر از سرامیک های با کیفیت بالا یا مواد کامپوزیت خاص ساخته شده است ، با سختی و مقاومت بسیار بالایی ، می تواند یک بستر پشتیبانی پایدار و قابل اعتماد برای پروب فراهم کند و به راحتی تغییر شکل یا آسیب نخواهد دید. صفحه پروب ویفر معمولاً برای آزمایش کیفیت ویفرها یا هسته های لوله در صنعت نیمه هادی استفاده می شود و با افزایش تقاضا برای دستگاه های الکترونیکی امروزه ، کیفیت اجزای دستگاه های الکترونیکی نیز به یک مسئله مهم در صنعت نیمه هادی تبدیل شده است.
کاوش ویفر
کاوش ویفر فرایندی در توسعه و تولید نیمه هادی است که پس از استفاده از مدار یکپارچه روی ویفر اعمال می شود ، که در آن هر تراشه روی ویفر به صورت الکتریکی مورد آزمایش قرار می گیرد تا اطمینان حاصل شود که ویفر دارای نقصی نیست که ممکن است پس از مونتاژ ویفر باعث ایجاد عملکرد الکتریکی کم شود به یک واحد ، در نتیجه کاهش هزینه ها.
روند کاوش ویفر
بشقاب پروب ویفر بارگذاری کرده و ویفر را بر روی یک صفحه گرد به نام چاک ویفر قرار می دهد و سپس از سوزن در کارت پروب استفاده می کند تا به طور دقیق با لنت های پیوند دهنده ویفر تراز شود. و صفحه کاوشگر سرامیکی ، از طریق عملکرد هماهنگ سایر مؤلفه ها ، می تواند اطلاعات دقیق مورد نیاز برای تراز دقیق را بدست آورد ، تا بتوانید پروب های روی لنت های پیوند دهنده را که دقیقاً در هر دو جهت افقی و عمودی تراز شده اند ، به طور دقیق پیکربندی کنید ، از صحت و اطمینان و اطمینان و اطمینان و اطمینان و اطمینان حاصل کنید. اثربخشی کل فرآیند بازرسی.